Contributions à la connaissance de la fiabilité des composants semiconducteurs de puissance
G. Coquery, L. Dupont, M. El Ghazouani, F. Forest, J.-J. Huselstein, R. Jérisian, Z. Khatir, S. Lefebvre, T. Lequeu, S. Moreau, F. Richardeau, F. Saint-Eve et J. Vallon
J3eA, 4 (2005) 001
DOI: https://doi.org/10.1051/bib-j3ea:2005851
