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Macrocellule intégrée pour la mesure de courant avec isolation galvanique en technologie CMOS standard

L. Hébrard, V. Frick, P. Poure et F. Braun

J3eA, 2 (2003) 007

Publié en ligne : 15 juin 2003

DOI: 10.1051/bib-j3ea:2003607

L. Hébrard

V. Frick

P. Poure

F. Braun

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