Une « Mallette Scan Champ Proche » pour l’enseignement de la compatibilité électromagnétique

IMS et pôle CNFM de Bordeaux, Université de Bordeaux, Talence, France

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Résumé

Avec l’augmentation du nombre de systèmes électroniques, les dysfonctionnements causés par des problèmes de compatibilité électromagnétique (CEM) sont de plus en plus présents. La formation des futurs ingénieurs dans ce domaine est donc très importante. Cependant, l’enseignement de la CEM n’est pas une tâche facile du fait qu’il faut faire intervenir des notions de rayonnement électromagnétique, de propagation d’onde électromagnétique, de couplage électromagnétique… Un travail important doit donc être réalisé afin de mettre en place des bancs de mesure pédagogiques permettant d’illustrer les phénomènes rencontrés. Dans le domaine de la compatibilité électromagnétique, il existe un banc de mesure nommé « scanner champ proche » qui permet de réaliser des cartographies des rayonnements électromagnétiques en zone de champ proche d’un composant ou d’un circuit électronique. Ce papier présente la conception d’une « Mallette Scan Champ Proche » transportable et autonome permettant la réalisation rapide de cartographies de champ électromagnétique en zone de champ proche. Une vidéo de démonstration est proposée en partie III.