EDP Sciences logo
Soumettre un article
rechercher
Menu
Home Tous les numéros Volume 18 (2019) HORS SÉRIE 1 J3eA, 18 (2019) 1013 Références
Open Access
Numéro
J3eA
Volume 18, 2019
JPCNFM 2018 – 15e journées pédagogiques du CNFM (Coordination nationale pour la formation en micro-électronique et en nanotechnologies)
Numéro d'article 1013
Nombre de pages 9
DOI https://doi.org/10.1051/j3ea/20191013
Publié en ligne 18 octobre 2019
  1. K. Wu, "MHz-Through-THz (MTT) Challenges and Opportunities [President's Column]," in IEEE Microwave Magazine, vol. 17, no. 2, pp. 8–10 (2016). [Google Scholar]
  2. T. K. Sarkar, R. Mailloux, A. A. Oliner, M. Salazar-Palma and D. L. Sengupta, "The Evolution of Electromagnetic Waveguides: From Hollow Metallic Guides to Microwave Integrated Circuits," in History of Wireless, 1, Wiley-IEEE Press, pp. 543–566 (2016). [Google Scholar]
  3. K. C. Gupta, T. Itoh, and A. A. Oliner, “Microwave and RF education-past, present, and future,” IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. 50, no. 3, pp. 1006–1014 (2002). [Google Scholar]
  4. T. M. Weller, P. G. Flikkema, L. P. Dunleavy, H. C. Gordon, and R. E. Henning, “Educating tomorrow’s RF/microwave engineer: A new undergraduate laboratory uniting circuit and system concepts,” in Proc. Microw. Symp. Dig., 1998 IEEE MTT-S Int., vol. 2, pp. 563–566 (1998). [Google Scholar]
  5. GIP-CNFM: Groupement d’Intérêt Public - Coordination Nationale pour la formation en Microélectronique et en nanotechnologies. Website: http://wwww.cnfm.fr. [Google Scholar]
  6. Marketsandmarkets.com, Publishing Date: January 2017, Report Code: AS 2320 [Google Scholar]
  7. C. Li, V. M. Lubecke, O. Boric-Lubecke and J. Lin, "A Review on Recent Advances in Doppler Radar Sensors for Noncontact Healthcare Monitoring," IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. 61, no. 5, pp. 2046–2060 (2013). [Google Scholar]
  8. K. Haddadi, Mesure hyperfréquence des propriétés électromagnétiques de matériaux : 300 MHz à 300 GHz, in Techniques de l'Ingénieur, TI Sciences et Techniques, dossier R1117, 31 pages, Paris, France (2016). [Google Scholar]
  9. K. Haddadi and C. Loyez, "Millimeter-wave six-port IQ demodulator in 65 nm SOI CMOS technology," 2016 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings, Taipei, pp. 1–5 (2016) [Google Scholar]
  10. K. Haddadi and C. Loyez, "65 nm SOI CMOS 60 GHz passive mixer for six-port technology," 2016 IEEE Topical Conference on Wireless Sensors and Sensor Networks (WiSNet), Austin, TX, pp. 52–55 (2016). [Google Scholar]
  11. S. Lallemand, K. Haddadi and C. Loyez, "A review of the six-port technique for metrology applications," 2018 22nd International Microwave and Radar Conference (MIKON), Poznan, pp. 77–79 (2018). [Google Scholar]
  12. A. E. Fellahi, K. Haddadi, D. Glay and T. Lasri, "Multiport Reflectometer Based on Subtractive Mixing," in IEEE Sensors Journal, vol. 15, no. 9, pp. 4729–4730 (2015). [Google Scholar]
  13. K. Haddadi and T. Lasri, "Six-port technology for millimeter-wave radar and imaging applications," 2014 IEEE Topical Conference on Wireless Sensors and Sensor Networks (WiSNet), Newport Beach, CA, pp. 1–3 (2014). [Google Scholar]
  14. K. Haddadi and T. Lasri, "Formulation for Complete and Accurate Calibration of Six-Port Reflectometer," in IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, vol. 60, no. 3, pp. 574–581 (2012). [Google Scholar]
  15. K. Haddadi, M. Wang, D. Glay and T. Lasri, "Ultra wide-band four-port reflectometer using only two quadratic detectors," 2008 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, Atlanta, GA, USA, 2008, pp. 379–382 (2008). [Google Scholar]
  16. IDEFI-FINMINA : Initiative d’Excellence - Formation Innovante en MIcroélectronique et Nanotechnologies, ANR-11-IDFI-0017. Website: http://www.cnfm.fr/VersionFrancaise/actualites/FINMINA.htm [Google Scholar]

Les statistiques affichées correspondent au cumul d'une part des vues des résumés de l'article et d'autre part des vues et téléchargements de l'article plein-texte (PDF, Full-HTML, ePub... selon les formats disponibles) sur la platefome Vision4Press.

Les statistiques sont disponibles avec un délai de 48 à 96 heures et sont mises à jour quotidiennement en semaine.

Le chargement des statistiques peut être long.