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Caractérisation automatisée et conception de puce

M. Guerin, S. Meillère, P. Pannier, H. Tortel and R. Laffont

J3eA, 23 (2024) 1008

Published online: 12 juillet 2024

DOI: 10.1051/j3ea/20241008

M. Guerin

S. Meillère

P. Pannier

H. Tortel

R. Laffont

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