Numéro |
J3eA
Volume 13, 2014
JPCNFM 2012 – 12e journées pédagogiques du CNFM (Coordination nationale pour la formation en micro-électronique et en nanotechnologies)
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Numéro d'article | 0009 | |
Nombre de pages | 13 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/j3ea/2014009 | |
Publié en ligne | 26 mai 2014 |
Testabilité d'un circuit intégré mixte dédié à la mesure d'un champ magnétique
1 Université de Strasbourg -
ICUBE
300 bd Sébastien Brant
BP 10413
F-67412 Illkirch Cedex
françois.schwartz@unistra.fr, luc.hebrard@unistra.fr
2 CRTC - Pôle CNFM de
Montpellier
161, rue Ada
F-34392 Montpellier Cedex 5
beatrice.Pradarelli@cnfm.fr
3 LIRMM - Pôle CNFM de
Montpellier
161, rue ADA
F-34095 Montpellier Cedex 5
latorre@lirmm.fr, nouet@lirmm.fr, lorival@lirmm.fr
La filière master à spécialité micro-nano électronique de l'université de Strasbourg propose un enseignement pratique de la testabilité de circuits intégrés mixtes analogique-numérique. Une séquence pédagogique est présentée et guide l'étudiant dans le test d'un circuit capteur intégrant une chaine instrumentale complète. Cette séquence d'apprentissage utilise le testeur industriel du pôle de Montpellier avec lequel une connexion à distance permet d'assurer le pilotage de la carte de test. Deux volets sont abordés. Le premier volet traite du test numérique et concentre son action sur une fonction particulière du capteur qui implémente à la fois de la logique combinatoire et séquentielle. Les techniques de test standardisées de l'industrie y sont présentées et expérimentées. Le second volet oriente l'étudiant dans le test des fonctions analogiques du capteur où des approches de caractérisation permettent d'en évaluer les performances. Enfin, un regard est porté sur la méthodologie globale de conception d'un circuit intégré et de son test en particulier.
Mots clés : testabilité / capteur magnétique à effet Hall / OTA, Smartest / test structurel / chaîne de scan / Tetramax / distorsion différentielle de linéarité DNL / non-linéarité intégrale INL / SNR
© EDP Sciences, 2014
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